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电子检测
2018 - 09 - 30
对于器件建模、技术开发、半导体工艺开发和规范、过程控制、元器件定标和试生产来说,精确和可重复的晶圆级(On Wafer)测量必不可少。半导体技术正在不断发展,产品从设计到上市的速度越来越快,同时对于更高精度的需求也日益增加。面对这些挑战,用户亟需一款综合的解决方案,以快速和精确地对元器件实施先进的直流和射频测量。清华大学天津电子信息研究院单片微波集成电路(MMIC)综合实验室配置了行业领先的Cascade Microtech晶圆级探针台、微波和直流偏置探头以及校准工具,并与是德科技Keysight Technologies的测试仪器、测量和分析软件完美结合,使您可以对所有元器件执行全方位的测量。每个晶圆级测量解决方案均可享受全方位的支持,清华大学天津电子信息研究院精通晶圆级测试与测量的解决专家将与客户紧密协作优化方案,以满足客户不断提出的测量、表征和建模要求MMIC测量系统配置Keysight相关仪表:1. 毫米波矢量网络分析仪N5290A型号名称N5290A微波矢量网络分析仪,900Hz~110GHz,四端口S93029A利用矢量校正进行噪声系数测量S93083A矢量和标量混频器/转换器测量S93084A嵌入式本振功能S93086A增益压缩测量选件S93087A互调失真测量S93088A信号源相位控制S93089A差分和 I/Q 器件测量S94511...
2018 - 09 - 30
产品名称:1.0mm转接头规格:1.0mm male-1.0mm maleSr. No.:0000MM技术参数:
2018 - 09 - 30
资料中心
2018 - 09 - 30
解决方案
  • 建模类型:物理模型、行为模型、经验模型、紧凑型模型。半导体材料类型: GaAs砷化镓、GaN氮化镓、InP磷化铟、SiGe硅锗器件类型:HBT、HEMT、MESFET。模型种类:小信号、非线性频率范围... 【详情】
    发布时间 2018 - 11 - 25
    来源:
  • 测试功能:直流IV/CV测试,频谱测试、单端和差分S参数、功率、噪声系数、非线性X参数、负载牵引等测试条件:连续波、脉冲、高低温频率范围:DC~110GHz温度范围:-60℃~+300℃ 【详情】
    发布时间 2018 - 11 - 25
    来源:
  • 芯片类型包括:功放、低噪放、开关、混频器、调制器芯片等。模块类型包括:T/R收发组件、变频组件设计步骤包括:电路设计、电磁分析、热分析、封装仿真通过利用先进的EDA工具,利用所有主要MMIC代工厂提供... 【详情】
    发布时间 2018 - 11 - 25
    来源:
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